Ipari mikroszkópok

OLYMPUS CX43 M

  • Olympus CX43
  • CX43M

Rutin ráeső fényű metallográfiai mikroszkóp

  • fejlett UIS2 optikai rendszer
  • nagy megbízhatóságú fogasléc-mentes tárgyasztal
  • könnyű kezelés és szállítás
  • legjobb az osztályában

OLYMPUS MX51

OLYMPUS MX51

Az MX51 univerzális ráeső fényű nagy tárgyasztalos mikroszkóp széles körű ipari alkalmazásra (pl. elektromos készülékek, öntvények, lapkák, fém és műanyag alkatrészek vizsgálatához). A kompakt, egyszerűen kezelhető és költséghatékony MX51 modell az MX-sorozat frontális vezérlését és a világszerte elismert UIS optikát alkalmazza. Rugalmas moduláris felépítésének köszönhetően a felhasználói igényeknek megfelelően többféle változatban használható.

Bövebben...

OLYMPUS MX63

  • OLYMPUS MX63

Az ipari és anyagtudományok területén szerzett hosszú tapasztalatának köszönhetően az Olympus szabatos megoldásokat kínál az elektronikus készülékek egyszerűbb, gyorsabb és hatékonyabb vizsgálatához.
Az MX63/MX63L félvezető vizsgáló mikroszkópok kifejezetten megfelel a lapkavizsgálat kívánalmainak. Ezek a felhasználóbarát mikroszkópok lehetővé teszik az ergonómiailag helyes testtartásban végezhető munkát, és a hosszabb megfigyelési idő által kihasználhatóak a zökkenőmentes működés előnyei. Ennél fogva maximalizálják a termelékenységet és az eszközök integrálását a munkaterületbe.

Bövebben...

OLYMPUS BX53 M

  • OLYMPUS BX53 M
  • OLYMPUS BX53M MÉRET 1
  • OLYMPUS BX53M MÉRET 2

Rugalmasság és kiemelkedő optikai teljesítmény
A BX53M mikroszkóp egyaránt alkalmas metallurgiai, anyagtudományi feladatok elvégzésére, továbbá az elektronikus készülékek és félvezető alkatrészek széles választékának alapos megfigyelésére. Kitűnő ár/teljesítmény arányt nyújt, és kialakítása fejlett ergonómián alapul. A mikroszkóp kiváló minőségű optikával van felszerelve, amelyet a tartozékok teljes tartománya támogat.

Bövebben...

OLYMPUS BX53 P

  • OLYMPUS BX53P
  • OLYMPUS BX53P MÉRET

Az Olympus polarizációs mikroszkópok nyomozati eszközök azonosítására, izotróp és anizotróp anyagok, kriminalisztika, vékony film / polimer / kristály azonosítására és az idegen részecskék vizsgálatára egyaránt alkalmasak.


OLYMPUS CKX53 

OLYMPUS CKX53 M
Gyors vizsgálatok az ipar számára

  • UIS optika a kiváló optikai teljesítményért
  • Hordozható
  • Magas szinten bővíthető rendszer
  • Rendelhető áteső és ráeső fényű megvilágítással


Bövebben...

OLYMPUS GX53

  • Olympus GX53
  • GX53 spec
  • GX53 méret

Megbízható teljesítmény mindenféle rutin vizsgálathoz és dokumentációs feladatokhoz

  • Sokoldalú moduláris rendszerű felépítés 
  • Tökéletesített optikai teljesítmény
  • Új színvonal a képtisztaságban
  • Ergonómikus kialakítás

OLYMPUS MVX10

  • OLYMPUS MVX10
  • MVX10 SPEC
  • MVX10 MÉRET

Kutató Makro Zoom Mikroszkóp

  • maximális hatékonyságú fluoreszcencia és sztereó vizsgálati mód
  • kiváló fényáteresztés az UV-NIR tartományban
  • minimalizált fotófakítás
  • fokozatmentes nagyítás 4x – 125x tartományban
  • 31x-es zoom-átfogás
  • nagy felbontás és munkatávolság
  • kiváló platform komplett rendszermegoldásokhoz

Bövebben...

HUND H600 M

HUND H600 M
HUND H600 M áteső-ráeső megvilágítású anyagvizsgáló mikroszkóp


A ráeső és átmenőfényű mikroszkópokat elsősorban a fémfeldolgozás, az elektronika, a műanyag és kerámia iparban használják, de jelentős szerepet kap a minőségbiztosítással foglalkozó intézményekben is.

Az ipari fejlődéssel együtt a minőségbiztosítás nagyon fontos szerepet tölt be, ennek köszönhetően az alkatrészek vizsgálata elengedhetetlen a gyártási minőség fenntartásához. A munkadarabok struktúrája, szerkezete meghatározó tényezője a minőségnek. Az anyag torzulásai láthatóak lesznek, a szemcseméretek meghatározhatóak és az anyag inhomogenitása nyilvánvalóvá válik a mikroszkópos vizsgálat során. A minőségbiztosítás célja, hogy következetes eredményekkel csökkentse a költségeket. Fontos szerepet játszik a racionalizálás és a gazdaságosság, ami azt jelenti, hogy a berendezésnek hatékonynak kell lennie. A H600 AM megfelel ezeknek a követelményeknek, melyeknek következtében alkalmas csiszolatok, ötvözetek, kerámia, kompozit anyagok és szerelt egységek vizsgálatára.

A H600 AM mikroszkóp ráeső és átmenőfényű megvilágítással is egyaránt használható a hozzá tartozó EPI objektív készlettel, amely alkalmas átlátszatlan illetve átlátszó anyagok vagy porok vizsgálatára is.

A ráeső fényű mikroszkópok elérhetőek belső megvilágítással vagy külső hidegfényforrással.
A mikroszkóp alatt megfigyelhető maximális tárgymagasság: 53 mm.

VSI TM100

  • VSI TM100
  • TM100-1
  • TM100-2
  • TM100-3
  • TM100 OKULÁR
  • TM100 SPEC

TM100 mérőmikroszkóp

Végtelenre korrigált optikai rendszer. Nagyítás: 30~150X. Okulár 15X okulár,  2X objektív. F.O.V : 0,14~7mm. Munkatávolság: 14~67mm. Okulár tubus 45°-ban döntött. Fókusz állító mechanika, Koaxiális halogén megvilágítás.

OLYMPUS STM7

  • Olympus STM7
  • STM7 méret

Függetlenül attól, hogy a minták kicsik vagy nagyok, egyszerűek vagy összetettek, vagy a méréseket kezdő vagy szakértő személy végzi, az Olympus STM7 termékcsalád az Ön igényeihez igazított mérő mikroszkópokkal rendelkezik.


Metallográfiai mintaelőkészítés

Metallográfiai mintaelőkészítés eszközei, Vágógépek-; Beágyazógépek-; Csiszoló-polírozó gépek.
A metallográfia olyan komplex anyagvizsgálat, amelynek során roncsolásos technológiával, vágás, beágyazás, csiszolás, polírozás és maratás folyamatán keresztül mikroszkópos képelemzéssel, továbbá keménységméréssel értékelhetjük, elemezhetjük a mintáinkat.
A vágás, beágyazás, csiszolás és polírozás során létrejövő teljesen sima felület létrehozásával a cél az anyagok valódi szerkezetének megismerése. A magas előkészítési minőség és a reprodukálható eredmények elérése érdekében a kiváló eszközfelszerelés, a helyes előkészítési módszer és a minőségi fogyóeszközök kombinációja szükséges, amit "professzionális előkészítési megoldásnak" nevezünk.

Bővebben...